宇瞻參加自動化展 半導體晶圓量測設備將首度亮相(中央社記者張建中新竹18日電)2026台北國際自動化工業大展即將於19日登場,宇瞻今天表示,將首度展出搭載高精度三維量測技術的碳化矽(SiC)晶圓和玻璃尺寸量測設備。閱讀完整原文 →評論 (0)載入評論中...